型号: D8 Advance

　　生产国别厂家：德国Bruker公司

　　主要技术指标：

　　    额定输出功率3kW;

　　    电流电压稳定度优于±0.005%;

　　    高精度步径式马达控制双圆测角仪，测角仪半径≥200mm，2θ转动范围-10°～168°，可读最小步长0.0001°，角度重现性0.0001°；林格斯一维探测器，动态范围>1×109cps，背景<0.1cps

　　主要用途：

　    　1. 物相定性分析（粉体、块体与薄膜等）

　　    2. 物相定量分析

　　    3. 精确测定点阵常数

　　    4. 晶粒大小及晶格畸变测定

　　    5. 颗粒大小及其分布测试

　　    6. 薄膜厚度（<100nm）及粗糙度测试

　　    7. 物质相变测定

　　Specifications:

　　    X-Ray Source: Non-monochromated Cu Kα X-Ray

　　                   (Running condition : 40kV, 40mA)

　　                   (Rated output power: 3kW, Current and Voltage Stability: <±0.005%)

　　    Detectors: NaI Scintillation counter detector

　　                 LynxEye 1D detector(dynamic range>1×109cps,background<0.1cps）

　      Optics: Both Bragg-Brentano and Parallel Beam Geometry

　             　Gobel Mirror

　　    Goniometer: High precision microprocessor controlled, two circle goniometer with independent stepper motors and optical encoders; Goniometer radius: ≧200mm; 2θ: -10°～168°

　　                 Smallest angular step size: 0.0001°

　　                 Reproducibility : 0.0001°

　　    Sample Stage:Standard Stage

　　                   XYZ motorized sample stage with Vacuum Chuck

　　                   Motorizing Rotating Reflection & Transmission Sample Stage

　　    Attachement:  High Temperature MRI stage (RT-1600°C)

　　                    Low Temperature MRI stage (-180-450°C)

　　Application:

　　       Phase Identification (Powder, block and Thin Film)

　　       Phase Quantitative Analysis

　　       Structure Refinement

　　       Precise determination of lattice constants

　　       Determination of crystalline size and lattice distortion

　　       Small Angle X-Ray Scattering Determination of Particle Size and Size Distribution

　　       Thin Film Analysis : Roughness, Thickness(<100nm)

　　       In-situ Phase Change Detect under High Temperature Conditions