报告简介：

　　X射线光电子能谱(XPS) 技术是一种重要的表面分析手段。该技术基于光电效应，采用X射线激发被测样品表面纳米尺度内的原子发射光电子，通过系统探测到所发射光电子的动能等信息，进而实现样品表面的元素种类及化合态的定性和定量的分析。XPS的分析范围广泛，可对从Li到U范围内的元素进行研究，因而不仅被广泛地应用于化学分析、材料开发应用研究、物理理论探讨等学术领域，还被广泛地应用于机械加工、印刷电路技术、镀膜材料工艺控制、纳米功能材料开发等工业领域。本次报告主要从技术原理和基础出发，和大家分享赛默飞最新的行业应用案例，包括：锂电池、催化剂、微电子器件、玻璃、半导体等行业。

　　演讲者简历：

　　葛青亲 博士，毕业于复旦大学物理系。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统，研究对象涵盖高温超导，铁基超导，Mott绝缘体等关联体系，及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验，博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作，在Nature Physics、Physical Review X等国际一流杂志发表论文10余篇。毕业后加入赛默飞世尔科技（中国）有限公司，担任应用专家一职，为客户提供现场技术支持及应用解决方案。

　　报告时间：2016年6月6日   14:30

　　报告地点：材料研究与测试中心5楼会议室

　　欢迎广大师生参加